NISTEP注目科学技術 - 2022_E335
概要
AI技術を駆使した超高速計測手法の革新
キーワード
機械学習 / 超高速計測 / 光計測
| ID | 2022_E335 |
|---|---|
| 調査回 | 2022 |
| 注目/兆し | 注目 |
| 所属機関 | 公的機関 |
| 専門分野 | ナノテクノロジー・材料 |
| 専門度 | 高 |
| 実現時期 | 5年以降10年未満 |
| 分析データ 推定科研費審査区分（中区分） | 14 （プラズマ学） |
| 分析データ クラスタ | 37 （電磁波・光学・レーザー・光半導体） |
研究段階
近年、著しいAI技術の進展により、AIを用いた超高速光パルスのキャラクタリゼーションや兼備計測が可能になりつつある。既に、従来手法よりも高い精度での計測ができることが実証されている例もある。今後、AI技術を支えるハードウェアの性能向上により、高解像度化および多次元計測への展開が期待される。
インパクト
2022年調査にはこの項目はありません。
必要な要素
近年、イメージセンサーの性能向上（微細化、画素数の増大、読み出し速度の向上）および、記憶デバイスの高速・大容量化によって、あらゆる研究分野において高分解能計測および多次元計測が可能になりつつある。しかし。その一方で、データ量が膨大となることが不可避であるため、情報爆発に至ることを避け、真に必要な情報をどのように抽出するかは、研究者を悩ませる問題となりつつある。AIを用いた情報圧縮計測の実現や、インテリジェンスを有した計測手法の確立が求められる。