走査型電子顕微鏡下における単一砥粒の加工試験・分析の一貫システムの構築
詳細情報
| 科研費研究課題/領域番号 | 23K22696 [ KAKENで見る ] |
|---|---|
| 種目 | 基盤研究(B) |
| 採択年度 | 2022 |
| 代表者氏名 | 土屋 健介 |
| 採択時の代表者所属 | 東京大学 生産技術研究所 准教授 |
| 代表者の科研費研究者番号 | 80345173 |
| 科研費審査区分（中区分） | 20 （機械力学、ロボティクス） |
| 分析データ 推定科研費審査区分（中区分） | 18 （材料力学、生産工学、設計工学） |
| 分析データ クラスタ | 40 （材料工学） |