斜入射X線非弾性散乱法によるGeおよびSi表面・界面のフォノン散乱解明に関する研究
詳細情報
| 科研費研究課題/領域番号 | 24K17313 [ KAKENで見る ] |
|---|---|
| 種目 | 若手研究 |
| 採択年度 | 2024 |
| 代表者氏名 | 横川 凌 |
| 採択時の代表者所属 | 明治大学 理工学部 助教 |
| 代表者の科研費研究者番号 | 10880619 |
| 科研費審査区分（中区分） | 21 （電気電子工学） |
| 分析データ 推定科研費審査区分（中区分） | 29 （応用物理物性） |
| 分析データ クラスタ | 27 （理化学/半導体・ナノ・材料） |