固体界面構造・電子状態観測を可能にするXAFS用高耐圧Auger電子分析器の開発
詳細情報
| 科研費研究課題/領域番号 | 24K15591 [ KAKENで見る ] |
|---|---|
| 種目 | 基盤研究(C) |
| 採択年度 | 2024 |
| 代表者氏名 | 小川 智史 |
| 採択時の代表者所属 | 名古屋大学 工学研究科 助教 |
| 代表者の科研費研究者番号 | 70739101 |
| 科研費審査区分（中区分） | 15 （素粒子、原子核、宇宙物理学） |
| 分析データ 推定科研費審査区分（中区分） | 34 （無機・錯体化学、分析化学） |
| 分析データ クラスタ | 37 （電磁波・光学・レーザー・光半導体） |