高分子絶縁材料の高温高電界下における劣化メカニズムの解明と余寿命推定方法の開発
詳細情報
| 科研費研究課題/領域番号 | 24K07581 [ KAKENで見る ] |
|---|---|
| 種目 | 基盤研究(C) |
| 採択年度 | 2024 |
| 代表者氏名 | 田中 康寛 |
| 採択時の代表者所属 | 東京都市大学 理工学部 教授 |
| 代表者の科研費研究者番号 | 30227186 |
| 科研費審査区分（中区分） | 21 （電気電子工学） |
| 分析データ 推定科研費審査区分（中区分） | 21 （電気電子工学） |
| 分析データ クラスタ | 40 （材料工学） |